XRF荧光分析仪能量色散X荧光光谱仪 XRF荧光光谱仪
型号：AOD-XRF-W660
一、 行业应用
XRF荧光分析仪能量色散X荧光光谱仪 XRF荧光光谱仪 能量色散X荧光光谱仪，简称XRF，是一种物理的元素分析方法，具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势，在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。
AOD-XRF-W660型能量色散X荧光光谱仪，主要应用：
1、 合金材料（铜合金，钢材，铝材）成分检测；
2、 粉末冶金行业全过程成分监测；
3、 纯金属材料中微量元素分析
4、 镀层厚度检测分析；
二、
AOD-XRF-W660产品图片
三、 AOD-XRF-W660产品特点
1、 电脑一体机，工业级计算机，双触摸屏（无需另配电脑），减少干扰和数据传输故障，仪器运行更稳定；
2、 仪器自动校准，确保仪器测试数据的准确性；
3、 自带WIFI系统，方便接入网络打印机和远程数据调试；
4、 500万像素高清摄像定位系统，准确定位测试点；
5、 样品测试结束时，有音乐提醒，提示跟换样品，提高工作效率；
6、 开放式工作曲线标定功能，客户可自主增加测试项目；
7、 可自定义多种报告输出形式；
8、 超大数据库，确保测试结果的准确性；
9、 不同客户可设置不同的限定标准，告别繁琐的更换限定值的烦恼；
10、 集成数据统计功能，方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；
11、 分析数据一键备份\还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；
12、 支持大样品测试功能，并有流程指引设计。
四、 AOD-XRF-W660 技术参数
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AOD-XRF-W660 技术参数
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1
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仪器测试范围：
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从硫Na-铀U之间的元素，10-50K V多种模式选择
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2
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样品种类：
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固体、液体、粉末；
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3
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***低检出限：
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2ppm（实具体测试样品条件）
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4
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测试时间：
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60s-200s(软件自动调整)
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5
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摄像定位系统：
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500万真像素高清定位系统；
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6
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X射线光管：
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型号：XF50Mo
生产厂家：北京爱欧德
窗口材料：金属铍
使用寿命：大于20000小时
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7
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探测器：
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型号：100CR+ DP5+PX5
生产厂家：美国Amptek
电制冷Si-Pin 探测器
分辨率145ev±5
1mil铍窗厚度（X123由100CR+DP5+PX5）
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9
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高压电源：
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型号：X3513
生产厂家：咸阳威思曼
0-50kev，0-2mA***大50W
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10
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高压保护措施
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过压自保护，自恢复
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11
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集成工业计算机：
（电脑一体机）
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4G内存，1.6G双核CPU
操作系统：Windows7 （无需外接电脑）
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12
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准直滤光系统：
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光斑大小：φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择)
滤光系统：9种3组（软件自动选择）
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13
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工作环境温度：
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温度:15-30℃ ；湿度：≤75% （不结露）
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输入电源：
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AC 220V±15%，50Hz
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15
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仪器尺寸：
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650mm*450mm*350mm
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测试样品腔尺寸：
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280mm*280mm*200mm
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17
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辐射防护标准：
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远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准
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